开玩棋牌8888
中文
/
ENGLISH
关于YXC
公司介绍
荣誉资质
合作伙伴
ESG
品牌故事
产品中心
石英晶体(Crystal)
表晶(KHZ)
石英晶体(MHZ)
热敏晶体(TSX)
车规级晶体(AECQ Crystal)
石英晶振(Oscillator)
CMOS晶振(CMOS XO)
差分晶振(Differential XO)
超低抖动(Ultra Low Jitter XO)
超低功耗(Ultra low power-XO)
宽温晶振(Wide Temp. XO)
车规级晶振(AEC-Q200 XO)
可编程晶振(Programmable)
CMOS可编程(CMOS XO)
差分晶振(Differential XO)
可编程压控晶振(VCXO)
可编程温补晶振(TCXO)
可编程压控温补(VCTCXO)
可编程展频晶振(SSXO)
压控晶振(VCXO)
CMOS压控晶振(CMOS VCXO)
差分压控(Differential VCXO)
温补晶振(TCXO)
差分温补(Differential TCXO)
高精度温补(High Precision TCXO)
压控温补晶振(VCTCXO)
压控温补(CMOS VCTCXO)
差分压控温补(VCTCXO)
恒温晶振(OCXO)
超低噪声OCXO
超高稳OCXO
小型化OCXO
国产化OCXO
RTC
Real Time Clock (实时时钟)
时钟缓冲器 / 时钟发生器
差分时钟缓冲器(Clock Buffer)
单端时钟缓冲器(Clock Buffer)
时钟发生器(Clock Generator)
应用领域
应用领域
应用领域
汽车电子
工业电子
消费电子
网络通信
服务支持
服务场景
FAE测试
样品申请
环保报告
参数换算
开玩棋牌8888产品手册
新闻资讯
晶振百科
行业资讯
公司新闻
生产流程
无冲突宣告书
晶振频点
技术解答
品质保证
可靠性测试标准
品质政策
品质系统
生产测试设备
联系我们
联系我们
在线留言
0755-28444777
176 6539 4502
晶振百科
行业资讯
公司新闻
生产流程
无冲突宣告书
晶振频点
技术解答
首页
新闻资讯
技术解答
晶振如何做性能测试 | 无源晶振如何改小
晶振如何做性能测试 | 无源晶振如何改小
作者: 开玩棋牌8888科技
日期:2025-07-23
浏览量:
Q:无源晶振smd2520改小封装2016
A:
无源晶振大尺寸改小尺寸,可参考YXC规格书缩小焊盘尺寸即可替代使用
Q:晶振如何做性能测试
A:
晶振的性能测试主要包括以下几个方面:
频率稳定性测试:将晶振置于稳定的环境中,使用频率计数器连续测量不同时间段的频率值,分析频率变化趋势;
频率准确度测试:将晶振的输出信号与已知频率的标准信号比较,使用频率计或频率合成器测量并计算频率偏差;
温度特性测试:将晶振放入温度控制箱,逐步改变温度,在每个温度点测量频率,评估其温度稳定性;
老化测试:在特定条件下长时间运行晶振,测量其频率变化,预测长期稳定性;
相位噪声测试:使用相位噪声测试仪测量晶振在不同频率偏移下的相位噪声性能;
通过以上测试,可全面评估晶振的性能,确保其满足电子设备的要求。
温补晶振相噪参数是什么意思
32.768khz有源晶振接法
推荐阅读
样品申请
在线咨询
咨询热线
座机:0755-28444777
手机:176 6539 4502
QQ咨询
QQ:3008636062
微信咨询
投诉建议
投诉建议
建议或问题
(必填)
:
联系方式
(必填)
: